Bruker 探针式表面轮廓仪（台阶仪）DektakXT

(一)、概述

布鲁克DektakXT （探针式表面轮廓仪）设计，实现了更高的重复性和分辨率，垂直高度重复性<5Å。这一式的产品源自于Dektak系列，长达四十年的表面测量技术。实现了纳米尺度的表面轮廓测量，在微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域大显身手。

台阶高度重复性优于5埃（<5 Å）

· 单拱龙门式设计实现了突破性的扫描稳定性

· 的"智能化电子器件"实现了低噪声的新

操作简便，高效易用

· 直观化的Vision64TM软件简化了用户界面的操作过程

· 的传感器设计使得在单一平台上即可实现超微力和较大的力测量

· 自对准的探针设计使用户可以地更换探针

探针式轮廓仪的

· 性能，物超所值

· 完备的零配件为您优化或延伸机台的多种应用提供保障

(二)、历史：技术四十余年

过去四十年间，范围内有上万台Dektak系列产品应用于各个领域，用于膜厚、应力、表面粗糙度和面形的测量。它们以、可靠、高效等特性广受赞誉。