系列X射线检测系统
Quadra 系列X射线检测系统的型QuadraNT密封式X射线管技术,超越光学成像,可实现电子产品及元器件内部遮蔽区域的无损检测,可放大68000倍。
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具有 0.95 µm 特征识别分辨率,基于X-Plane 图像分层技术,是用于PCBA 生产线质量控制的理想解决方案。
可检测 BGA 和 QFN元件焊接情况、焊接短路、通孔填充以及仿冒组件。 |
Quadra 5 能够在具有挑战性的工艺过程中发挥出色表现。
0.35 µm 特征分辨率和高功率输出使其具备了 额外的高分辨率焊线、封装级检测和故障分析功能。 |
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Quadra 7 具有0.1 µm 特征分辨率,可实现清图像,是市面上性能越的故障分析和生产质量控制X射线检测设备。
随着组件和电路板的尺寸越来越小,Quadra 7 可帮助您满足当前和未来的质量需求。 |
XD系列X射线检测系统
用于电子元件生产和大板应用的可靠X射线检测系统。
| Jade FP XD7500VR Jade FP配备开放式透射型 X 射线管,是一种用于PCBA 生产质量控制的经济效益型设备。 |
Ruby XL XD7800NT Ruby XL 的检测区域范围可达 96 x 67 cm (37.9" x 26.4") ,是大板应用的理想解决方案。 0.5 µm 特征识别可实现PCB质量控制、封装级检测和故障分析。 |
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X射线系统选配件
这些配件可以帮助您强化DAGE X射线检测系统的性能。
| X-Plane® 无需额外的CT 硬件即可观察样本分层。X-Plane附加软件可以轻松方便的检视复杂的PCBA布局,如:双面板 、层叠封装结构,也可以检测焊接空洞。 |
µCT计算机断层摄影
创建高分辨率的 3D模型和图像分层。µCT 可以清晰可靠地检测到微观特征和缺陷,是故障分析应用的理想选择。
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