仪器简介

JYC3100综合IV性能测试仪，内部包含高性能的进口数字源表、线性直流电源和探针台等组成。可以针对各种形式材料器件，如：封装的、晶圆片、有无电极的材料等形式；可用于测试半导体材料：铁电、压电、晶体等材料和MOS器件、BJT器件、光电器件、传感器、太阳能电池、忆阻器等，是一款真正的用途广泛、功能强大、性价比很高的测试仪器。

主要性能指标

1、SMU模块
高达 200 V/1 A
2档量程范围： 20V 1A；200V 100mA
电源电压：最小量程 ±20mV,最小分辨率 500nV
电源电流：最小量程 ±10nA,最小分辨率 500fA
测量电压：最小量程±20mV，最小分辨率：10nV
测量电流：最小量程±10nA，最小分辨率：10fA
2、电源模块：60V/2A，分辨率为10mv/1mA

主要功能特点

• 全中文图形化的用户界面，功能设置灵活方便，参数设置提供多种选择。
• 实时显示图形曲线，并自动存储测试数据。
• 主要软件功能：
基本测试：经典扫描、列表扫描、时间采样、四线低电阻测试等。
二极管：正向导通测试、反向击穿测试等。
MOS管：输出特性、转移特性，正向导通电阻、反向击穿电压等。
应用测试 忆阻器测试、太阳能电池测试、四探针电阻率测试。

标准配件与选件

1）标准配件：低噪声测试屏蔽盒适合四端口封装器件测试，并且可以更换多种封装。
2）选件：
四探针夹具
探针台：
标准配置：探针台体、体视显微镜、三轴管状探针夹具、探针座和探针等。
选件配置：CCD采集卡、屏蔽箱和光源输出光纤支架。