膜厚仪的原理详解
2026年01月14日 18:21:58
来源：明通甄选 >> 进入该公司展台
阅读量：1
膜厚仪，也被称为薄膜厚度测量仪，是一种专门用于精密测量薄膜厚度的仪器。膜厚仪的工作原理主要有以下几种：干涉法：仪器发出不同波长的光波穿透样品膜层，膜的上下表面反射光被仪器接收。反射光相互之间的相位差会增强或减弱，通过测量这一相位差的变化，可以推导出薄膜的厚度。这种方法适用于测量透明或半透明薄膜的厚度。磁感应法：适用于测量磁性基底（如钢）上的非磁性涂层（如油漆、粉末涂层）的厚度。仪器通过测量磁场强度的变化来确定涂层的厚度。当探头靠近涂层时，磁场线会穿过涂层并受到其厚度的影响，从而改变磁场强度。涡流法：适用于测量非磁性基底（如铝、铜）上的涂层厚度。通过在探头中产生高频交流电，产生涡流。涡流的强度和相位变化与涂层的厚度有关，从而可以测量涂层的厚度。超声波法：通过发射和接收超声波脉冲来测量涂层的厚度。超声波在不同材料中的传播速度不同，通过测量超声波从涂层表面反射回来的时间，可以计算出涂层的厚度。X射线荧光法：适用于测量非常薄的涂层，或者在不破坏涂层的情况下测量多层涂层的厚度。通过激发涂层中的元素发出X射线，然后分析这些X射线的能谱，可以确定涂层的厚度和成分。
版权与免责声明：
1.凡本网注明"来源：全球工厂网"的所有作品，版权均属于全球工厂网，转载请必须注明全球工厂网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容，如涉及侵权、违规遭投诉的，一律由发布企业自行承担责任，本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
4.如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系。
