镀层测厚仪的原理详解
2026年01月14日 18:20:38
来源：明通甄选 >> 进入该公司展台
阅读量：1
镀层测厚仪，也被称为覆层测厚仪，是一种用于测量涂层或镀层厚度的设备。镀层测厚仪的工作原理主要有以下几种：磁性测厚法：利用永9磁铁（测头）与导磁钢材之间的吸力大小与距离成一定比例关系的原理进行测厚。适用于钢、铁等铁磁质金属基体上的非铁磁性涂层、镀层厚度的测量，如漆、粉末、塑料、橡胶、合成材料、磷化层、铬、锌、铅、铝、锡、镉、瓷、珐琅、氧化层等。覆层越厚，磁阻越大，磁通越小。通过测量磁阻或磁通的变化，可以计算出覆层的厚度。涡流测厚法：利用高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，当测头靠近导体时，在导体中形成涡流，涡流大小与测头离导电基体的距离成反比。适用于铜、铝、锌、锡等基体上的珐琅、橡胶、油漆、塑料层等非导电覆层厚度的测量。通过测量涡流的变化，可以计算出覆层的厚度。X射线测厚法：将X射线照射在样品上，通过测量从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度。测量的分辨率高、精度高，且不会对样品造成损坏。可测极薄镀层、双镀层、合金镀层，测量范围较小，属于无接触无损测量。
版权与免责声明：
1.凡本网注明"来源：全球工厂网"的所有作品，版权均属于全球工厂网，转载请必须注明全球工厂网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容，如涉及侵权、违规遭投诉的，一律由发布企业自行承担责任，本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。
4.如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系。
