1.测试环境条件机器周围环境温度维持在+25~+30℃之间，相对湿度：≤85%；气压：86kPa～106kPa正常大气压力。

2.满足标准 .GB/T2423.1-2008 低温试验方法Test method of low tempemture test

·GB/T2423.2-2008  高温试验方法Test method of high temperature test

·GB/T2423.22-2012 温度变化试验Test of temperature chantge

·GJB150.5-86温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB360.7-87温度冲击试验Test of temperature shock

·GJB367.2-87温度冲击试验Test of temperature shock

·QC/T17-92、EIA364-32、IEC68-2-14等

3.测试室温度范围-40℃～+150 ℃ (风冷式)

3.1.低温冲击范围-10℃～-40 ℃  

3.2.高温冲击范围60℃～150 ℃  

4.高温室

4.1.预热温度范围RT～+165℃

4.2.升温时间

+50℃→+165 ≤30min

注：升温时间为高温室单独运转时的性能

5.低温室

5.1.预冷温度范围RT～-55℃

5.2.降温时间+20℃ → -55℃≤约60min

注：降温时间为低温室单独运转时的性能

6.试验室（试样区）

6.1.试验方式采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,完成冷热温度冲击测试。

6.2.温度波动度±0.5℃

6.3.温度偏差±2.0℃

6.4.温度恢复时间3~5min；转换温度只需要≤10s（风门开启时间：5秒以内）

7.冲击暴露时间≥30min

工作原理

超快速冷热冲击试验机的核心在于其高效的制冷与加热系统、精密的温度控制技术和样品转移机制。设备通常由高温区、低温区和样品转移室三部分构成。样品在这些区域之间快速移动，经历从高温到低温或反向的剧烈温变。通过采用高性能的压缩机、电加热器以及精确的温度传感器，结合先进的PID（比例-积分-微分）控制算法，试验机能够实现从-70℃到+200℃（或更广范围）的温度跨度，并在几秒钟内完成温度转换，确保温度冲击的快速性和准确性。

技术特点

超高速温变：能在几秒内完成温度转换，提供比传统冷热冲击试验更快的温变速率，加速产品测试周期。

高精度控制：温控精度可达±0.5℃甚至更高，确保测试结果的准确性和重复性。

温度均匀性：通过优化的气流设计，保证样品表面温度的均匀性，减少测试误差。

智能化操作：集成智能控制系统，支持复杂温变程序的编程、自动执行及数据记录，提高操作便利性。

耐用设计：采用优质材料与先进制造工艺，确保长期稳定运行，适合长时间连续测试。

应用领域

电子行业：半导体芯片、电路板、显示屏等电子元器件的可靠性验证，评估其在温度变化下的功能稳定性。

航天航空：航天器组件、飞行器电子系统耐温度环境测试，确保太空环境下的可靠运行。

汽车制造业：汽车电子设备、塑料和橡胶部件的耐候性测试，验证其在不同气候条件下的性能。

新材料研发：评估新材料在温度条件下的物理、化学性质变化，加速新材料的研发进程。