THS-XX-R系列是一套集成的光学外差信号源,采用1u机架安装配置。THS-XX-R系列基于可调谐波长激光(TWL)系统,可产生高达10太赫兹的光学外差信号。 光外差是由两个光源的拍频产生的信号。 跳动使光信号可被GHz和较慢的平方律检测器(如PD)检测到,并在激光雷达、光谱学和其他高相位灵敏度应用中具有多种用途。THS-XX-R系列在大信号范围内提供高精度和高稳定性的光外差信号。 集成的GUI软件使用户可以控制光外差信号。
THS-XX-R系列 功能结构图
光学参数规格
Model | THS-5-R | THS-10-R |
外差信号频率 | 50 MHz to 4.75 THz | 0.4 THz to 9.95 THz |
频率精度 | ± 50 MHz | |
微调频率分辨率 | 10 MHz | |
频率稳定性 | Short term: ± 2 MHz, 24-hr: ± 30 MHz | |
输出功率 | 20 mW (13 dBm) max. | |
载噪比(CNR) | 55 dBc typ. @ -15 dBm | |
TWL相对强度噪声 (RIN) | -145 dB/Hz | |
偏振消光比 | 20 dB min. | |
尾纤类型 | Panda 1550 PM Fiber | |
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其他参数规格
电源 | 100 – 240 VAC |
光连接器 | 标准:FC/APC,,其他可定制 |
工作温度 | 0℃ to +40℃ |
存储温度 | -40℃ to +70℃ |
控制模式 | CW Mode/Scan Mode |
通讯接口 | RS-232 via USB 2.0, LabVIEW Software Interface |
产品尺寸 | 1U Rackmount: 19" (D) x 14"(L) x 1.75" (H) |
软件界面:
典型外差信号:
通过光电二极管和射频频谱分析仪测量的样品外差信号。
观察到高CNR。 特征形状展示。
通过光电接收器的外差信号:
通过光接收器和射频频谱分析仪测量的样本外差信号。
观察到高CNR。 表现出特征性的形状。
通过编译外差信号测量光接收器的频率响应。
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