X荧光光谱仪EDX3600B技术特征：

1、利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 

2、采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比；

3、 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的性；

4、 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；

5、采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；

6、采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。

X荧光光谱仪EDX3600B性能特点：

1、专业的水泥、钢铁、矿料等全元素分析，亦可用于镀层检测和RoHS检测。
2、内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍。
3、针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
4、电制冷UHRD探测器，摒弃液氮制冷。
5、智能全元素分析软件，与仪器硬件相得益彰，且操作简单。

EDX3600B技术指标：

1、测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
2、元素含量分析范围：1ppm—99.99%
3、同时分析元素：24种元素同时分析
4、测量镀层：镀层厚度测量zui薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
5、分析精度：0.05%
6、测量对象状态：粉末、固体、液体
7、测量时间：60s—200s 
8、能量分辨率为：（150±5）eV 
9、管压：5KV—50KV
10.管流：50uA—1000uA

EDX3600B标准配置：电制冷UHRD探测器；信噪比增强器 ；光路增强系统 ；内置高清晰摄像头；可自动切换型准直器和滤光片 ；精准的升降平台 ；加强的金属元素感度分析器。

详询：