2003年欧盟颁布ROHS//WEEE规范禁限有害物质后，中国各地陆续发现玩具等产品因重金属超标，造成商品下架，召回等事件。环保无卤要求、美国CPSIA HR4040法案、ASTMF963标准、挪威POHS、欧盟ELV指令和中国ELV指令的相继出台，使得各行业针对有害物质的检测成为产品进入市场的关键，企业内部如何管控质量也成为各行业重点关注的问题。现在美国赛默飞世尔科技（Thermo Fisher）旗下尼通（Niton）手持式元素分析仪提供了完善的解决方案，可以满足不同行业客户对其产品中有毒有害元素的检测需求，以的成本做到的产品质量控制。

赛默飞世尔（Thermo Fisher Scientific），原称美国热电集团，是大的分析仪器制造商，尼通(Niton)是其旗下品牌。作为手持式X射线荧光（XRF）分析仪器制造行业的，尼通一直着手持式XRF技术的潮流。尼通产品因其的性能于1995年、2003年和2008年三次荣获产品领域性的R&D 100大奖。一直被业界为工业现场合金、矿物、土壤、考古、RoHS、消费品等领域的材料分析标准。

技术优势：

采用X射线荧光光谱，可方便、快速、准确、无损地测量材料中从Mg到U之间的所有元素(GOLDD及GOLDD+系列)；同时显示标准偏差。针对重金属有害元素检测，30秒就可完成重金属元素的快速筛选。
的X射线微型光管技术，测试管压可达50KV，有效提升Pb，Cd等重金属有害元素激发效率。
测试厚度校正（针对较薄样品）无论样品厚薄都可以进行精确检测
无卤测试（Cl、Br、Cl+Br），快速对样品中的卤素进行检测。
可充电锂电池，连续工作6小时无需充电。
*的基本参数法（FP）分析软件,针对所有电子合金材料实现盲测。
界面简单易懂，操作极其方便；带背光的彩色触摸屏，读数容易、清晰，亮度可调,任意光线下可读取数据。
仪器无需外接PDA，一体化程度更高，操作便捷；高强度、高密封性设计，防尘防水能力强。
X-射线管、高压发生器及半导体检测器（Si-Pin或SDD）核心单元采用Peltier恒温冷却系统，保证核心单元的寿命及仪器测量精度不受外界温度的变化及长时间连续测量的影响。X射线管辐射剂量小，寿命长。
操作密码保护，防止非人员使用；仪器断电或故障时，快门自动关闭；快门打开或X射线管工作时，仪器四周LED指示灯闪烁，保证使用安全。
所测元素分析范围为:检测下限～100％，不分基体一键测试；机内自动存储10000个以上的分析数据及谱图，配备高温测试配件，可对温度可达430℃的高温样品进行检测。
仪器小巧轻便，整机仅重1.3公斤，配备携带用保护套，携带安全方便。
具有机内自动诊断和故障报告功能，同时能实现机内自校准，无需外部标样。具有USB口、蓝牙、数据线等直接进行数据传输。
尼通公司自主开发的软件操作系统，使用方便，同时避免了由于使用WindowsCE所带来的电脑病毒感染的危险。随机配置NDT软件，可进行数据上传或下载，可编辑、输出PMI分析报告，可实现PC机远程控制；也可以通过INTERNET实现软件升级。
配备防水手提箱、携带仪器用保护套、110V/220V通用充电器、两块可充电锂电池、PC机连接电缆、NDT软件、仪器手腕安全系索、标样等齐全的附件和备件。
被测样品的尺寸：线材直径1mm以上、小口径管材外径2mm以上。材料（表面）状态是平面、曲面、粗糙表面、粉末、粘土状等都可以准确测量。
CCD摄像头和小点瞄准功能改善了复杂样本的测试定位问题（XL3t选配部件）
XL3t-700SGOLDD机型，采用几何优化设计的大面积、高性能SDD探测器，灵敏度更高,检测速度更快，是Si-PIN（硅半导体探测器）探测器的10倍，是SDD（小型硅电子漂移探测器）的3倍；

Niton XL2 系列
◆　价值导向型。
◆　重量轻，坚固耐用，适用于任何现场环境及天气条件
◆　固定角度显示屏，易于辨认的图标，使操作更加容易
◆　标准分析范围超过25 种元素，可满足常规的现场分析需求
◆　分析快速、可靠，便于快速准确决策
◆　对于分析设备采购预算比较紧张的用户来说，尼通XL2 系列是您理想的选择
◆　可升级到Niton XL2 GOLDD 系列

Niton XL2 GOLDD 系列
◆　性能导向型。
◆　大面积SDD 探测器，采用化几何设计，灵敏度更高，检测限更低，分析速度更快，对于环境中的重金属污染物、杂质及痕量元素具有杰出的分析性能
◆　在不充氦气或非真空条件下，具有Mg，Al，Si，P，S等轻元素检测能力