手持式厚度测试仪是利用x射线荧光的无损快速分析方法来进行厚度测试的仪器,当x射线照射镀银层样品,表面的银层被激发会发射出二次x射线荧光信号,被半导体探测器收集并进行信号的处理和运算,从而得出表面银层的厚度。
分析方法:能量色散X射线荧光分析方法
测量镀层范围:0-50um
检测镀层种类:铜、镍、锌、铬、金、银等金属镀层
分析精度:单层电镀相对误差不超过10%
检测时间:15-20秒
检测窗口:12mm
GPS、WIFI:内置系统
检测对象:金属电镀
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手持式厚度测试仪是利用x射线荧光的无损快速分析方法来进行厚度测试的仪器,当x射线照射镀银层样品,表面的银层被激发会发射出二次x射线荧光信号,被半导体探测器收集并进行信号的处理和运算,从而得出表面银层的厚度
手持式厚度测试仪是利用x射线荧光的无损快速分析方法来进行厚度测试的仪器,当x射线照射镀银层样品,表面的银层被激发会发射出二次x射线荧光信号,被半导体探测器收集并进行信号的处理和运算,从而得出表面银层的厚度。
分析方法:能量色散X射线荧光分析方法
测量镀层范围:0-50um
检测镀层种类:铜、镍、锌、铬、金、银等金属镀层
分析精度:单层电镀相对误差不超过10%
检测时间:15-20秒
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