X荧光镀层测厚仪广泛应用于各种金属的单镀层，多镀层，多元合金，甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析，包括轻金属镀层，非金属镀层，达克罗，Nip镀层测试，包括Ni与P的比例也均可检测。专业的多元优化迭代开发出EFP核心算法，结合*的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统，只需要少量的标样来校正仪器因子，可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

技术参数：测量元素范围：CI(17)-U(92)

涂镀层分析范围：CI(17)/Li(3)-U(92)

分析软件：EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素和有机物厚度也可分析

测试程式添加：1862条测试程式免费提供，也可编辑新程式

软件操作：人性化封闭软件，自动提示校正和步骤，避免操作错误

X射线装置：升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦射线管

接收器：日本东芝正比计数管，窗口面积≥150mm2

射线准直系统：垂直光路交换装置搭配黄金准直器

视频观测光路系统：垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头

测样读取开启方式：恒压恒流快门式光闸

滤光片：铝、空、镍

准直器 0.2mm 0.5mm；两准直器任选一种

最近测距光斑扩散度：10%

最小测量面积：约0.04mm2

测量距离：具有距离补偿功能，可改变测量距离，能测量凹凸异形样品，变焦距离0-30mm

样品观察：1/2.5彩色CCD，全局快门，有效像素：1280*960，变焦功能

对焦方式：高敏感镜头（无需增加其他辅助传感器），手动对焦

放大倍数：光学38-46X，数字放大40-200倍

样品台尺寸：500mm*360mm

样品可放置区域：480mm*320mm*205mm（C型开槽设计，特殊测试时可以超出区域放置样品）

外部尺寸：540mm*430mm*475mm

移动方式：高精密XY手动滑轨

可移动范围：40mm*50mm

电源：交流220V 50HZ

功耗：120W（不包括计算机）

冷却系统：对流通道过滤式风冷

保养升级模块：软硬件模块化

环境要求：使用时温度：10℃-40℃ 存储和运输时温度：0℃-50℃ 空气相对湿度：≤80%

重量：约45KG

随机标准片：十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu

其他附件：电脑一套、喷墨打印机、附件箱