产品型号： JKCE-S530

产品名称：螺纹及轮廓综合测量机

分辨力：0.01μm

大扫描范围：75mm

小螺距：0.1mm

X轴和Z轴全程分辨率：0.01μm

X轴测量精度：±（1.5+L/100）μm

Z轴测量精度：±（1.5+L/100）μm

爬坡能力：75°（T型测针）

测量力：（40-150）mN

测量速度：（0.01-2）mm/s

主要特点：全自动测量螺纹量规，兼具轮廓扫描功能

一、产品描述

JKCE-S530螺纹及轮廓综合测量机采用进口高精度光栅测量系统、高精密气浮轴承驱动系统、进口伺服电机控制系统、高性能计算机控制系统及超大容量存储器技术，实现螺纹综合参数的全自动、高精度测量。通过高精密气浮轴承系统驱动测针与被测螺纹接触扫描，采用进口高精度光栅测量系统记录接触扫描过程中水平和垂直方向的坐标，由计算机将二维记录数据进行合成，按螺纹参数的相关定义进行分析，计算获得螺纹的各种参数。

螺纹综合测量机为全自动测量，操作者只需装好被测螺纹，在检测软件上选择被测螺纹的标准和输入被测螺纹的规格、检测量程等参数后，点击“开始”按钮，系统立即进行全自动检定，系统可以实时显示螺纹轮廓的牙型曲线图，自动计算出大径、中径、小径、螺距、牙型角等各项螺纹参数，并根据系统内置的螺纹标准数据库对被测件螺纹的各项参数进行合格判定，整个测量过程不超过2分钟，检测结束后自动生成检定结果。

仪器测量原理符合《GB/T 28703-2012 圆柱螺纹检测方法》、《JJF 1345-2012 圆柱螺纹量规校准规范》的要求。
    轮廓扫描功能模块同样为全自动测量，在轮廓扫描模式下，操作者只需选择扫描范围，装好被测零件，点击“开始”按钮，系统立即进行全自动检定，系统可以实时显示扫描轮廓的曲线图，通过计算，用户可以获得轮廓的尺寸、形位公差等参数的结果。用户完成所有参数的评定后，即可进行测量报告打印。系统带有数据库，所有评定参数都可以保存。

系统软件为简体中文操作系统，操作方便。

二、产品功能

（一）螺纹扫描功能
1、全自动检测圆柱螺纹塞规、圆柱螺纹环规、锥螺纹塞规、锥螺纹环规、光面环规、光面塞规等各种内、外尺寸量规的综合参数，如作用中径、单一中径、基本中径、大径、小径、螺距、牙型角、牙型半角、牙侧直线度、螺纹升角、锥度等参数。
2、可检测梯形螺纹、偏梯形螺纹、锯齿螺纹等大坡度螺纹，也可检测普通的螺纹工件。
3、可检测单头、多头螺纹的综合参数。
4、检测各种类GB（国标）、ISO（）、BS（英制）、ANSI（美标）、DIN（德标）、JIS（日标）等量规。国内全面、专业的螺纹标准数据库，满足国内客户需求。
5、满足多种螺纹规程、标准，根据规程、标准自动进行检测结果判定。
6、一次测量即可自动记录和显示任意位置螺纹数据及各种螺纹参数，自动生成被检定螺纹的曲线图、相关参数数据和分析图表。 
7、全自动识别测针、夹具，避免操作失误引起撞针等问题。
8、单侧扫描分析：支持量规的单侧扫描、分析。
9、测针定位控制器：增加人性化按键盒，使操作更灵活。
10、界面友好，纯中文操作页面，更符合中国用户操作习惯。
11、测量记录采用集中式数据库管理，测量结果自动保存，文件名称以测量编号 量规规格 量规类型的型式存储，起到见名知义的效果。可按被测螺纹类型、生产单位、出厂编号、检定员、送检单位、设备编号、检定日期和有效日期等查询和管理检定记录。
12、可从数据库中选定多条记录成批打印检定记录或者检定证书。
13、可将检定数据输出到Word、Excel、AutoCAD（选配）文档。
14、具有数据备份和还原数据库功能。
15、输出Word、PDF多种格式报表，并支持的自定义报表，定制检定记录报表和检定证书的格式，特别适合国内计量机构对报表方面的要求。 
16、可根据客户需求定制检定标准（选配）。
17、可加载系统定义之外的特殊螺纹的分析算法，特别适合止推螺纹等特殊螺纹的分析计算，方便定制开发。

（二）单向、双向扫描轮廓功能
（1）扫描测量：通过T型测针与被测表面的滑移进行接触测量。能对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检验。其主要优点是可以直接测量某些难以测量到的零件表面，如孔、槽等其他检测仪器难以检测的部位，又能直接按某种评定标准读数或是描绘出表面轮廓曲线的形状，且测量速度快、结果可靠、操作方便。
（2）图形分析：对测量得到的零件轮廓形状数据，用拟合的方法来评定圆弧、角度、倾斜、距离等，从而可以测量半径、直径、沟槽距离、角度、倾斜度、凸起、水平距离、垂直距离、台阶等形状参数。包含有基本要素计算、要素间计算、单元计算、坐标控制、标注公差等功能。
（3）可手动选择图形局部元素，精确测量计算坐标、点线距离、圆弧中心、圆弧顶点等，可直接评价圆度、直线度、平行度等形位公差。
（4）检测结果，也可以把数据导进Auto CAD、Excel或者直接利用软件自身的轮廓功能进行二次分析，适合科研人员进行深入研究，提高了仪器的适用性能。