PI的X射线相机使用科学级，二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路，多读出口，多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直，聚焦，高速采集等操作；低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。
我们的X射线相机具备16位的数模转换电路，工业标准的接口，方便搭建实践平台和OEM扩展。
PI-MTE 真空内相机
超小的真空内置X射线相机 普林斯顿仪器作为的超低噪声科研相机，很荣幸向您推荐我们*的真空内X射线相机。 PI-MTE是超小巧的热电制冷型CCD相机，适用于软X射线的直接探测 lt;30 eV to ~20 keV），并且可以在真空腔内长时间无间断工作。
PI-MTE相机拥有以下重要特点: • 背照式CCD， 2k x 2k 分辨率，无抗反射镀膜 • 可探测范围 lt;30 eV to ~20 keV • 紧凑的机械设计，充分利用真空腔内部空间 • 高速USB2.0接口High Speed USB 2.0 interface • 灵活的读出速度50 KHz to 2 MHz • LightField可实现全面的控制 |
产品综述
专为真空内部使用而全新设计的相机! PI-MTE是一款专为适应超高真空度而设计的相机。同时也是超小巧的科研级相机，PI-MTE可以满足条件苛刻的软X射线成像成谱应用，例如高能激光，X射线显微镜，X射线等离子诊断，X射线干涉成像，深紫外刻蚀技术 等等。
PI-MTE可用于各类实验室到同步辐射源，为各个领域的科研者提供了超低噪声，高动态范围的表现，已经成为普林斯顿仪器的标志性产品之一。 热电制冷设计可以支持大尺寸CCD，例如2048X2048分辨率。 |
产品特点
< 30 eV to ~20 keV 能量的X射线实验: 广泛适用于各类软X射线的应用，例如 X射线显微镜，X射线等离子诊断，X射线干涉成像，深紫外刻蚀技术，以及X射线干涉刻蚀等。
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反复证明的真空兼容设计: 一款可用于真空腔内部的深紫外X射线相机 芯片深度制冷到-55°C ，极大减少暗电流噪声 高效的热传导设计，可长时间持续操作，无需间歇性关机。
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高速USB2.0数据接口: 任何电脑直接连接，无需额外硬件 可选择光纤转换器实现50米外远程控制 真正的16位数据传输能力，可达2MHz读出速度。
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灵活的双读出放大器: 两个独立的读出放大器，可以处理低噪声和高动态范围两种应用 独自优化设计的时钟，提供的读出噪声 LightField software 轻松控制
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LightField的64-位操作平台: 直观易上手的用户界面设计 自动背景扣除，平场纠正和误差检测 PICAM（64）位通用程序语言，方便的程序修改与编译
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型号规格
PI-MTE In-Vacuum Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表
Model | Imaging Array | Pixel Size | Energy Range | Peak Absorption |
1300B | 1340 x 1300 | 20 x 20 µm | ~ 1.15 eV to > 9 keV | 95% |
2048B | 2048 x 2048 | 13.5 x 13.5 µm | ~ 1.15 eV to > 9 keV | 95% |
产品应用
X-Ray Plasma Diagnostics Hot and dense plasmas are of enormous interest in basic physics research because of the multitude of interesting phenomena that arise from them.
Soft X-Ray Microscopy Soft X-ray Microscopy is used for imaging and researching the elemental composition and structure of biological samples and more.
EUV Lithography EUV lithography is gaining popularity because it retains the look and feel of the traditional optical lithography process (i.e utilizes the 13.5 nm wavelength) and uses the same basic design tools.
X-Ray Spectroscopy X-ray absorption spectroscopy is an element-specific probe of the local structure of elements in a material. |
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