TEP-30电子密度分析天平,电子密度分析天平,电子分析天平,密度分析天平,密度天平,电子天平,分析天平系密度称量两用电子分析天平，它采用精密电子分析天平利用阿基米德定律，可对任何形状不规则的固体物质同时进行重量和比重的分析测量，适用于工矿企业，科研机构，大专院校实验室作质量比重的测量与分析。
| 产品型号 | zui大称量（g） | 分度值（g） | 称盘尺寸（mm） | 备 注 |
| TEP-500 | 500g | 10mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度称量两用 |
| TEP-300 | 300g | 1mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度称量两用 |
| TEP-200 | 200g | 1mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度称量两用 |
| TEP-30 | 30g/300g | 1mg/10mg | Φ40/Φ80mm | 上皿式、密度称量两用 |
| AEL-200A | 200g | 0.1mg | Φ40/Φ90mm | 下皿式、密度称量两用 |
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