成分分析是指通过科学分析方法对产品或样品的成分进行分析，对各个成分进行定性定量分析的技术方法。金鉴实验室提供成分分析检测报告，其主要作用和目的是帮助客户解决以下问题：

　　（1）判断材料是否符合原材料标准要求；

　　（2）鉴定不同批次材料成分是否相同；

　　（3）区分外观相似的材料；

　　（4）分析未知物成分，判断未知物来源等等。

　　材料成分分析：

　　主要为企业提供材料或原料准确的元素信息或牌号鉴定，确保产品原材料符合成分要求，协助企业进行材料质量控制，减少产品质量问题。

　　常用分析方法：

　　Miro-FTIR、SEM-EDS、ICP-OES、FIB—EDS

　　显微红外光谱仪（Miro-FTIR）

　　红外光谱仪（FTIR）是以一束红外光照射试样，试样的分子将吸收一部分光能并转变为分子的振动能和转动能。借助于仪器将吸收值与相应的波数作图，即可获得该试样的红外吸收光谱，红外光谱中的每一个特征吸收谱带都包含了试样分子中基团和化学键的信息。不同物质有不同的红外光谱，将试样的红外光谱和已知的红外光谱进行比较从而鉴别材料。

　　红外光谱仪分析所需的样品量较大，无法分析微量有机物污染。金鉴实验室使用的显微红外光谱仪（Miro-FTIR）是将红外光谱与显微镜结合在一起的分析仪器，在显微镜的帮助下可以寻找到要分析的微量有机污染物，主要用于分析被焊面或焊点表面的有机污染物，寻找腐蚀或可焊性不良的原因。以下是金鉴实验室工程师测试PPA及硅胶材料所得的红外光谱图。

　　PPA红外光谱图 硅胶红外光谱图

　　X射线能谱仪（EDS）

　　EDS能谱仪是一种分析物质元素的仪器，在真空室下用电子束轰击样品表面，激发物质发射出特征x射线，根据特征x射线的波长，定性与半定量分析元素周期表中B-U的元素，EDS可提供样品表面微区的定性或半定量元素及成分分析。

　　EDS的分析方式有点分析、线分析和面分析；点分析得到一点的所有元素；线分析每次对的一条线做一种元素分析，多次扫描得到所有元素的线分布；面分析对一个面内的所有元素分析，测得元素含量是测量面范围的平均值。EDS与扫描电镜（SEM）联用，可测试样品表面的元素含量，微区分析时所激发的体积约为10um3；EDS与聚焦离子束显微镜（FIB-SEM）联用时，可观察样品内部的元素成分及元素分布情况。以下是金鉴实验室工程师测试荧光粉所得的元素成分及含量。

　　荧光粉成分分析

　　电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）

　　电感耦合等离子体发射光谱仪是通过识别待测元素的特征谱线存在与否进行定性分析，与标准曲线比较后进行定量分析，可测试全部的金属元素及大部分非金属元素（无法测试的元素有H、He、C、N、O、F、S、Ne、Cl、Ar、Kr、Xe、Rn、Br、I、At等）。ICP-OES测试线性范围一般是10ppm到100ppm（相当于%），在测试时需要将样品溶解后，稀释到标准曲线范围内进行测试。主要用于测试合金中金属元素的含量等，如键合线中金、银元素的含量，氮化镓中镓元素含量。