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开机后不需校准就可直接测量
采用布鲁克技术的XFlash®SDD检测器
分析元素最小从Mg开始，达40多种。
分析范围：ppm级至50以上
实时分析数据和图谱显示
XRF软件具有定性、定量分析功能，控制光管的电压和电流，使测量范围更广
测量无损，不受样品形状限制
仪器自动校准，自动存储测量数据，无需人工干预
主机一体化设计，高强度密封，防水、防尘，抗冲击
可选择一键式定时测量
内置Bruker专业操作软件，计算和显示速度快
仪器适应高温，低温，潮湿，雨天、沙尘等恶劣环境
在开机状态下长时间不测量时，仪器会自动进入待机状态，以节省电源和保护仪器
X射线管耐用性强，采用Peltier半导体恒温制冷技术更增加了使用寿命
选配GPS定位系统，可精确定位矿体位置并绘制矿脉分布图
FP模式，大大缩短现场工作时间。自动补偿元素间干扰。
野外操作时，自由携带，非常方便
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技术规格
重量 |
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| 尺寸 | 30cm（L）x10cm（Wx 28cm（H） | ||||||||||||||||||
| 激发源 | X射线管，Ag靶，40kV | ||||||||||||||||||
| 检测器 | XFlash®硅漂移检测器（SDD）, 检测速度快； 能量分辨率高：145eV, 计数率：250kcps | ||||||||||||||||||
| 冷却系统 | Peltier半导体冷却系统 | ||||||||||||||||||
| 电源 | 交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时 | ||||||||||||||||||
| 工作条件 | 温度：-20+55 湿度：095
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