一. 描述：
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
二.参照标准：
硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》
型号及参数
规格型 FT-336
1.方块电阻范围 10-2～2×104Ω/□
2.电阻率范围 10-3～2×105Ω-cm
测试电流范围 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.电流精度 ±%
5.电阻精度 ≤%
6.显示读数 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式 普通单电测量
8.工作电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗 lt;30W
9.误差 ≤4%（标准样片结果）
10.选购功能 选购软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头；
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