该款紫外辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

特点

* 光谱及角度特性经严格校正

* 数字液晶显示，带背光

* 手动/自动量程切换

* 数字输出接口（USB,冗余供电）

* 低电量提醒

* 自动延时关机

* 有数字保持

* 轻触按键操作，蜂鸣提示

主要技术指标

* 波长 范围及峰值波长：( 以下两种选其一)

（1）UV-340 探头：λ：(315～370)nm；λ P ＝340nm

（2）UV-313 探头：λ：(290～340)nm；λ P ＝313nm

* 辐照度测量范围：

(～×10³ ) μW/cm 2

* 紫外带外区杂光：

UV313：小于 %

UV340：小于 %

* 相对示值误差：±10%（相对与 NIM 标准）

* 角度响应特性：±5%(α ≤10°)

* 线性误差：±1%

* 换档误差：±1%

* 短期不稳定性：±1%（开机 30min 后）

* 疲劳特性：衰减量小于 2%

* 零值误差：满量程的±1%

* 响应时间：1 秒

* 使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH

* 尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；

* 电源 ： 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只

亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电

整机功耗 ＜VA