简单介绍
WGJSTD-A介电常数及介质损耗测试仪是一款通用的，多用途，多量程的高频阻抗测量仪器。它可测量高频电感器，高频电容器及各种谐振元件的品质因数（Q值）、电感量、电容量、分布电容、分布电感，也可测量高频电路组件的有效串、并联电阻、传输线的特征阻抗、电容器的损耗角正切值、电工材料的高频介质损耗、介质常数等等。因而高频Q表不但广泛用于高频电子元件和材料的生产、科研、品质管理等部门、也是高频电子和通信实验室的常用仪器。
WGJSTD-A介电常数及介质损耗测试仪的详细介绍
特点：
◆ 优化的测试电路设计使残值更小
◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术
◆ LED数字读出品质因数，手动/自动量程切换
◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度
| 信号源频率范围 | 25KHz-50MHz | Q测量范围 | 1-999，自动/手动量程切换 |
| 信号源频率覆盖比 | 2000 ：1 | Q测量误差 | ≤5%±满度值的2% |
| 信号源频率精度 | 1×10-4±1个字，5位有效数 | Q测量工作误差 | ≤7%±满度值的2% |
| 电感测量范围 | 0.1μH-1000mH | 调谐电容 | 主电容 40-500PF，微调电容±3PF |
| 电感测量误差 | <5%±0.03μH | 调谐电容误差/分辨率 | 主电容<1%,微调电容0.2pf |
| 标准测试频点 | 全波段任意频率下均可测试 | Q合格预置范围 | 1-999声光提示 |
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