Filmetrics是厚度测量系统的制造商。Filmetrics的厚度和回缩指数可以在不到一秒的时间内测量。像Filmetrics的所有仪器一样，例如F20型号连接到用户Windows计算机的USB端口并在几分钟内设置。
只需一次点击，我们就可以通过分析薄膜如何反射光来测量薄膜的厚度。通过测量人眼不可见的光，可以测量薄至1nm和厚至13mm的薄膜。而且，由于没有移动部件，结果可以在几秒钟内获得：薄膜厚度，颜色，折射率，甚至粗糙度
薄膜厚度测量系统
F20系列
测量膜：平面，半透明，吸光膜。
例如：SiO 2 SiNX DLC，光刻胶，多晶硅， 非晶硅，硅晶片
基板：平坦，反射 如果要获得光学指数，基板应该是平坦的和反射的。如果衬底是透明的，则应该进行反射处理。 基板：Si，Al，GaAs，钢，聚合物薄膜， 聚碳酸酯  
F20 厚度标准片：
 
F20 厚度标准片 Rei-si-4：不带氧化硅 F20 厚度标准片Ts~Sio2-4-7200，带氧化硅
F30：集成薄膜厚度
测量系统
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强大的工具可用于监测薄膜沉积。用F30光谱反射系统实时测量沉积速率，薄膜厚度，光学常数（n和k）以及半导体和介质层的均匀性。 
F40：显微镜薄膜厚度
测量系统
F40产品系列适用于需要小至1微米的光点尺寸的应用。对于大多数显微镜，F40只需连接到摄像机安装的行业标准Cmount适配器。 
几乎任何样品形状的厚度和指数的全自动映射。手动加载和机器人加载系统是可用的。 
Filmetrics F60-t系列可 | 
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