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分体式涂层测厚仪|深圳市时代之峰科技

2026年09月18日 11:33:32      来源:未来仪器 >> 进入该公司展台      阅读量:3

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菲希尔Fischer MPOR‑FP分体式涂层测厚仪

德国Fischer菲希尔 DUALSCOPE MPOR‑FP分体式涂层测厚仪,采用外置分体探头结构,柔性线缆,适合狭小部位、凹槽、曲面工件测量。仪器集成磁感应与电涡流两种测量原理,自动识别铁磁性与非铁磁性基材,无需手动切换模式。

测量范围0‑2000μm,本机存储1000组测量数据,内置统计计算,USB接口导出数据输出检测报告。分体探头设计,操作灵活,广泛应用喷涂、电镀、阳极氧化行业,适用于车间现场质检与实验室检测。

菲希尔Fischer MPOR‑FP分体式涂层测厚仪

德国菲希尔 外置分体探头膜厚仪 磁感应+电涡流双原理
分体外接探头 0‑2000μm 存储1000组读数 USB数据输出 铁/非铁基材自动识别
型号:DUALSCOPE MPOR‑FP
品牌:Fischer 菲希尔(德国原装)
配置:分体式外置探头

产品核心特点
分体式外接探头
主机与测量探头分离,柔性连接线,适合狭小缝隙、曲面、工件凹槽等不易触及位置测量。
双测量原理
磁感应法(Fe)+电涡流法(NF),一台仪器兼容钢铁、铝、铜等多种基材涂层检测。
基材自动识别
自动识别铁磁性/非铁磁性基材,自动切换测量模式,减少人为设置,提升检测效率。
1000组数据存储
可储存1000个测量读数,自带统计功能:平均值、最大、最小、标准差、测量次数。
USB数据输出
USB接口连接电脑,导出测量数据,生成检测报告,便于实验室归档、品质追溯。
便捷校准功能
支持零点校准、多点校准,搭配标准膜厚片完成校验,保障长期测量精度稳定。

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