KoreSurfaceSeerS在飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）系列中，是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。 飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。
KoreSurfaceSeerS型号的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）使用的是5keVCs+离子束（可选惰性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。在每100µsTOF循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。要达到所谓的“静态SIMS"极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低的聚合物上，也通常为5000c/s）。
SurfaceSeerS仪器特点：
配备5keVAr+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损"分析；
针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；
均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析；
可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；
质量分辨率可达>2,500m/δm(FWHM)；
适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。
