西西蒂DP手持式静电测试仪产品特点与使用

　　西格玛紫外用物镜可以用于YAG的2次谐波(532nm)和4次谐波(266nm)脉冲激光的加工装置的物镜。校正了可见谱区和UV激光波长两者的色差，具有高透过率。

　　物镜工作距离(WD)长，场曲也得到校正，在视场边缘也可以得到自然清晰的观察图像。可以用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限共轭的物镜。也可用于紫外光的观察。激光损伤阈值(参考值) 0.09 J/cm2 (266nm)、0.2J/cm2 (532nm)(脉冲宽：10ns、重复频率：20Hz)

　　YAG激光的3次谐波(355nm)加工用的高NA无限共轭物镜。由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

　　可以用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限远校正的物镜。也可用于近紫外光及红外光的观察。此物镜也可用于可见光(532nm)的脉冲激光。激光损伤阈值(参考值)0.05 J/cm2(355nm)、0.1J/cm2(532nm)(脉冲宽：10ns、重复频率：20Hz)

　　近紫外用物镜 / PAL-NUV

　　YAG激光的3次谐波(355nm)加工用的高NA无限共轭物镜。由于设计上校正了可见谱区像差，可以与激光光束同轴观察加工面。

　　可以用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限远校正的物镜。也可用于近紫外光及红外光的观察。此物镜也可用于可见光(532nm)的脉冲激光。激光损伤阈值(参考值)0.05 J/cm2(355nm)、0.1J/cm2(532nm)(脉冲宽：10ns、重复频率：20Hz)

　　西格玛紫外用物镜

　　西西蒂DP手持式静电测试仪非常适合检查和检查安装在设备上的离子发生器。它是一种可以应用于金属板上以测量衰减时间并检查离子发生器的静电消除性能的产品，作为 CPM。* 衰减测量模式(2 种类型) ±1000V → ±100V， ±1000V → ±50V* 测量值不一定符合 IEC 标准的值。日本SSD 西西蒂DP 手持式静电测试仪

　　西西蒂DP手持式静电测试仪结构紧凑，手持式，便于在现场检查离子发生器。 日本SSD 西西蒂DP 手持式静电测试仪

　　配备旋转头，的摆动功能允许在改变板部方向的同时进行测量，这在检查连接到设备的离子发生器时非常方便。

　　易于使用：简单的作按钮可让您快速准确地进行测量。

　　明亮的大尺寸 LCD 显示屏：即使在工作现场，也能轻松查看。

　　西西蒂DP手持式静电测试仪可以用于YAG的2次谐波(532nm)和4次谐波(266nm)脉冲激光的加工装置的物镜。校正了可见谱区和UV激光波长两者的色差，具有高透过率。

　　西西蒂DP手持式静电测试仪

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