TXRF(
全反射X荧光)分析原理是基于X荧光能谱法，但与X射线能谱形成对比的是，传统能谱采用原级X光束以45°角轰击样品，而TXRF采用毫弧度的临界角(接近于零度角)入射。由于采用此种近于切线方向的入射角，原级X光束几乎可以全部被反射，照射在样品表面后，可以很大程度上避免样品载体吸收光束和减小散射的发生，同时减小了载体的背景和噪声，亦可减少样品使用量。
TX2000将全反射和传统的能量色散集成在同一台仪器上，创新光学编码器的步进电机，角度测量，软件控制Mo/W靶可自由切换，采用高分辨、低背景的帕尔贴控温硅漂移检测器。
全反射X荧光光谱仪应用范围
TX2000可检测从钠Na到钚Pu所有元素含量，可进行痕量或超痕量元素分析(ppt或pg)，广泛的应用在环境分析(水、灰尘、沉积物、大气悬浮物)，制药分析(生物体液和组织样品中的有害元素)，法医学(微小证据分析)，化学纯度分析(酸、碱、盐、溶剂、水、超纯试剂)，油品分析(原油、轻质油、燃料油)，染料分析(墨水、油漆、粉末)，半导体材料分析(挥发相分解)，核材料工业(放射性元素分析)。
全反射X荧光光谱仪主要特点
1、单内标校正，有效简化了定量分析，无基体影响；
2、对于任何基体的样品可单独进行校准和定量分析；
3、多元素实时分析，可进行痕量和超痕量分析；
4、不受样品的类型和不同应用需求影响；
5、*的液体或固体样品的微量分析，分析所需样品量小；
6、优良的检出限水平，元素分析范围从钠覆盖到钚；
7、动态线性范围；
8、无需任何化学前处理，无记忆效应；
9、非破坏性分析，运行成本低廉。
在X荧光谱仪范围内，与波长色散谱仪(WXRF)方法比较，由于TXRF分析技术用样量很少，也不需要制作样品的烦琐过程，又没有本底增强或减弱效应，不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法，对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面，都比WXRF方法有明显的优势。
TXRF技术可以对从氧到铀的所有元素进行分析，一次可以对近30种元素进行同时分析，这是原子吸收谱仪中的ETAAS和FAAS方法难以做到的。与质谱仪中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析(NAA)等方法相比较，TXRF分析方法在快速、简便、经济、多元素同时分析、用样量少、检出限低、定量性好等方面有着综合优势。
