X射线无损测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪，使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器，其探测器分辨率低为139eV，处于水平；产品采用上照式设计，多重防辐射保护装置以及X射线发生器，使辐射剂量符合国际规定；样品观察系统采用CCD、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的测厚分析软件，各项指标均符合相关技术要求，技术达水平。
1.高精度和准确性：仪器可以实现高精度的厚度测量，通常在微米级别。其准确性能够满足各个行业对于材料厚度的严格要求；
2.快速和高效：仪器使用简便、操作迅速，通常只需几秒钟至几分钟即可完成一次测量。这对于大批量生产和快速检测非常重要，提高了工作效率；
3.非破坏性测试：无需对被测材料进行破坏性取样，避免了材料的浪费和额外的成本。同时，它不会影响材料的特性和功能；
4.多功能性：仪器适用于不同类型的材料，包括金属、合金、塑料等。它还可以检测复杂结构中不同部位的厚度差异，如焊缝、角部等。
XRF2000镀层测厚仪主要应用于金属镀层银的测试，同时可以测试镀金、镀镍、镀锡、镀锌、镀铜、镀铑、镀钯、二元合金镀层等，整个过程全部通过电脑来操作，实现“傻瓜”式操作模式，简单的培训既可以进行操作，整个仪器测试基本没有耗材，降低了后期的使用成本。
