FRITSCH A22激光粒度仪是一款基于激光衍射原理的高精度粒度分析仪器，广泛应用于材料科学、制药、化工、食品等领域。它能够快速、准确地测量颗粒的粒度分布，为科研和工业生产提供可靠的数据支持。
1.激光衍射原理：
FRITSCH A22激光粒度仪利用激光衍射原理进行粒度分析。当激光束通过分散的颗粒样品时，颗粒会对激光产生散射，散射光的强度和角度与颗粒的大小和形状有关。通过检测和分析散射光的分布，可以计算出颗粒的粒度分布。
2.光学系统：
FRITSCH A22激光粒度仪的光学系统包括激光光源、样品池、透镜组和光电探测器。激光光源发出单色激光束，通过样品池中的颗粒样品后，散射光经过透镜组聚焦到光电探测器上。光电探测器将光信号转换为电信号，传输给计算机进行处理。
3.数据处理：
计算机通过内置的算法对光电探测器采集到的散射光信号进行分析，计算出颗粒的粒度分布，并生成粒度分布曲线和统计参数，如D10、D50、D90等。
技术参数：
1.测量范围：0.01~2000μm，
2.可选范围0.01~45μm，0.01~2000μm，0.08~2000μm0.08~45μm15~2000μm，
3.激光：2个半导体激光(绿光，λ=532nm，7mW，红光，λ=850nm 15mW，寿命高达10000小时)
4.测试通道：110
5.光路设计：反傅里叶设计，可移动式测试单元(fritsch技术)，背向散射技术(fritsch技术)
6.激光束对准：自动
7.激光保护等级：1级
8.典型测试时间：5-10s
9.软件：采用FRITSCH MaS控制软件，用于控制，记录和评估测量结果
10.符合ISO13320标准
