广告招募

当前位置:全球工厂网 > 技术中心 > 所有分类

纳米粒度及Zeta电位分析仪的原理介绍

2026年01月01日 08:35:32      来源:澳谱特科技(上海)有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:0

分享:

  纳米粒度及Zeta电位分析仪集成了动态光散DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS,可以准确的检测颗粒的粒径及粒径分布,Zeta电位,高分子和蛋白体系的分子量信息等参数,可广泛的应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
 
  纳米粒度及Zeta电位分析仪的原理
 
  当激光照射到分散于液体介质中的微小颗粒时,由于颗粒的布朗运动引起散射光的频率偏移,导致散射光信号随时间发生动态变化,该变化的大小与颗粒的布朗运动速度有关,而颗粒的布朗运动速度又取决于颗粒粒径的大小,颗粒大布朗运动速度低,反之颗粒小布朗运动速度高,使用光子探测器在固定的角度采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒粒径信息。
 
  纳米粒度及Zeta电位分析仪的测量方法
 
  1.电泳法。当电场应用于电解质时,悬浮在电解质中的带电粒子被吸引到相反电荷的电极上,作用于粒子的粘性力倾向于对抗这种运动.当这两种对抗达到平衡时,粒子以恒定的速度移动,我们通常称之为电泳迁移率。
 
  2.流动电位法。流动电位是指当电解质溶液在带电荷的绝缘表面流动时,表面的双层自由带电荷颗粒将沿溶液流动方向移动。这些带电荷颗粒的运动导致下游电荷积累,上下游之间的电位差是流动电位。
 
  3.超声电声法。在胶体溶液两侧施加电压,带点粒子运动会产生声波,测量声波,计算粒子的动态迁移率,然后计算Zeta电位。
版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球工厂网"的所有作品,版权均属于全球工厂网,转载请必须注明全球工厂网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。