广告招募

当前位置:全球工厂网 > 技术中心 > 所有分类

能量色散X射线荧光分析仪被测量样品的要求是什么

2025年12月14日 08:45:04      来源:北京普析通用仪器有限责任公司 >> 进入该公司展台      阅读量:0

分享:

   能量色散X射线荧光分析仪是一种快速、无损、多元素同时测定的现代测试分析技术,已广泛应用于材料科学、生物医学、地质研究、环境监测、天体物理、文物考古、刑事探查等诸多领域。它更大特点就是对样品进行定性、定量分析时不用制样,可选择整个或取样品部分残片颗粒,也可以将样品研磨成粉末等来进行X射线荧光分析,对测试分析样品大小要求较低,在一定范围内样品可大可小。
 
  能量色散X射线荧光分析仪的性能特点:
  水泥、钢铁、矿料等全元素分析,亦可用于镀层检测和RoHS检测。
  超薄窗大面积的进口SDD探测器。
  内置信噪比25倍。
  抽真空样品腔,有利于低含量轻元素的分析
  针对不同样品可自动切换准直器和滤光片。
  任意多个可选择的分析和识别模型。
  相互独立的基体效应校正模型。
  多变量非线性回归程序。
  智能全元素分析软件,与仪器硬件相得益彰,且操作简单。
 
  能量色散X射线荧光分析仪被测量样品的要求:
  由于技术特点的差异,需要对被测仪量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。
 
  能量色散型仪器较大的优势在于:可以对样品不作特别复杂的处理而直接进行测量,对样品也没有任何损坏,适合直接用于生产的过程控制中;
 
  但需要强调指出的是:从荧光理论上,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。
版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球工厂网"的所有作品,版权均属于全球工厂网,转载请必须注明全球工厂网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。