台式镀层测厚仪是一款上照式镀层分析仪，具有外观紧凑、节约空间、易于操作、分析快速、检测精准等特点，被广泛应用于常规和复杂镀层结构的样品进行元素分析和厚度检测，尤其是对不均匀、不规则，甚至微小件等形态的样品，确保客户获得可靠、可重复结果以满足数百种应用，包括：珠宝首饰、小零件、连接器镀层、普通电路板等。
使用优势
多准直器
多准直器可选或多种准直器组合由软件自动切换，可灵活应对不同尺寸的零件。
一键式测量
配备直观而智能的分析软件，操作简单，任何人无需培训都可以测试样品，仅仅需要点击“开始测试”，数十秒即可获得检测结果啦。
自动对焦
高低大小样品可快速清晰对焦，视频图像可放大、含十字线、自动聚焦。
超大测量室
仪器壳体的开槽设计(C型槽)使得测量空间宽大，样品放置便捷，可以测量如印刷线路板类大而平整的物品，也可以放置形状复杂的大样品。
无损检测
X射线荧光是无损分析过程，不留任何痕迹，即使是对敏感性材料，其测量也是非常安全的。
高性能进口探测器
选用适合于多元素镀层的高灵敏度的半导体探测器，比起传统的封气正比计数器，半导体探测器具有更佳分辨率、更低的背景噪声(最高 S/N 比)长期稳定性以及更长的使用寿命。
可编程自动位移样品台
可选配固定或电动型自动平台，并且可编程以适应广泛的零件尺寸和测试量。固定样品台足以对易于定位检测面积的电路板上一个或几个位置进行点检。用户可以使用固定样品台手动定位样品，但是对于具有复杂设计和极小特征的电路板，在电动样品台上的处理效果会更好，这种样品台可提供更好的精确度来进行微调。此外，INSIGHT还允许创建、保存和调用多点程序，以便对多个部件进行自动化测试。可编程 XY 载物台与内置模式识别软件相结合，使大容量样品测试既高效又一致。
