J-RAS离子迁移试验装置代理
追求高性能、高信赖性、高便利性的系统构成.
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)ECM-100是可以单独试验的ALL-IN-ONE检测系统，并且重要的试验数据被保存到CF存储卡。
作为系统构成我们准备了40CH/100CH型，可以根据您的预算、设置空间来进行选择。
高机能
*用PC设定试验条件之后，就可以不使用PC来继续进行试验。
*使用ECM-100主机就可对HAST/试验槽进行自动控制，试验状况可以用ECM-100进行变更/监视。
*HAST/试验槽的开门功能等的联动装置功能也是标准装备的
*没有通信机能的HAST/试验槽，也可以通过模拟输入来监视湿度
J-RAS离子迁移试验装置产品优势
简单/便利
△采用高性能驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。
△软件设计简单明了，能够非常直观得操作。
△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。
△测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。
高性能&高机能
△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。
→迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。
△一台电脑最大可以增设400通道。
△每个通道可以设定不同的电压。
可靠性更高&操作更简洁
△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。
△配有CF卡，以防设备故障数据丢失。
△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。
△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。
J-RAS离子迁移试验装置(CAF)用途
△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。
△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置，可以在多领域利用。
△测试难度大的高阻值也能除去干扰，清晰得进行测试。
△16msec的高速抽样处理，不会漏掉任何一个数据。
△电容器等绝缘电阻的试验也非常合适。
计测Channel数10CH
计测电阻值范围2kΩ~10TΩ
DCbias印加电压范围2范围 (1.0～30.0V，30.1～300.0V)
电压范围设定1组(5CH)
电压级别设定Channel个别
设定分解能0.1V
设定精度±{0.3%(F.S.)+0.5｝V
最大输出电流700μA/CH
DCbias计测计测范围2范围 (0～33V，0～330V)
计测精度±{0.3%(F.S.)+0.5｝V
计测分解能0.1V～(整数+小数点以下1行表示)
AD转换器24bits⊿∑AD转换器/CH
计测速度16msec/10CH
电流计测计测方式CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式
计测范围5范围(～500μA，～50μA，～2.5μA，～125nA，～6.25nA)
计测范围设定CHANNEL个别或者自动范围
计测精度±0.3%(F.S.)
计测分解能1pA～(有效数字4行表示)
AD转换器24bits⊿∑AD转换器/CH
计测速度16msec/100CH
制御Channel数5～100CH(5Channel单位)
数据收录试验制御单位1组(5CH)
试验设定小时1分～9999小时
收录间隔(定期)1分～60分
收录间隔(ECM发生时)16msec
收录媒体Compact flashcard
其他主PC通信机能LAN接触口×1
环境试验机通信机能RS-232C接触口×2
外部输入1接点输入×4(联动装置，紧急停止制御可)
外部输入2电压输入(1-5V)×2，电流输入(4-20mA)×2(温度·温度记录可)
自动校正bias输出补正，异常leak电流检测
