广告招募

当前位置:全球工厂网 > 技术中心 > 所有分类

衰减全反射光谱技术

2025年07月21日 08:20:03      来源:深圳市深科健光谱科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:13

分享:

衰减全反射光谱技术Attenuated total reflectance(ATR)

ATR是使用经一次或多次的内反射后结果而形成的衰减波evanescentwave,当衰减波射在样品成份会被吸收,造成反射光能量的损失,这与物质的光谱会回归到光谱检测器上。这衰减波的穿透深度不大,约0.5-2.0mm。被测样品的折射率是影响光程的主要因素,结果与被用于吸光物质及在给定波长下非吸光的物质浓度有关。因此在ATR的光谱中也含有非吸光物质的信息,这也是ATR光谱区别于其它常规光谱的之处。
ATR可用作非破坏性及非接触式测量,除IR、NIR强穿透性外还可用于UV-VIS对粉质、溶液及固体测量。特别是应用于自动过程控制测量。
卡尔蔡司在这领域有着的供应及支援。

版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:全球工厂网"的所有作品,版权均属于全球工厂网,转载请必须注明全球工厂网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。