ICP光谱仪在使用中由于碰撞引起变宽可分为以下三种情况

来源： 时间：2022/5/30 15:22:10 点击：46次

ICP光谱仪分析中的光谱干扰还包括背景干扰，与谱线重叠干扰。如果在原子化阶段有高浓度基体挥发出来，以气态分子盐微粒，“烟雾”等形式存在于炬管中，则会产生分子吸收和光散射引起的假信号，把这种信号称为背景吸收。背景干扰是指由连续发射形成的带状光谱叠加在分析线上而构成的干扰。其来源主要有：电子-离子复合辐射，轫致辐射，分子辐射，杂散光的影响等。谱线重叠干扰是指另一元素的谱线重叠或部分重叠在别的元素的分析线上而形成的干扰。

ICP光谱仪在原子或离子中与中性粒子或带电粒子碰撞引起变宽，有以下三种情况：
1.共振变宽：同种原子相互碰撞引起的谱线变宽。b范德华交宽：痕量元素的粒子与氩的中性原子碰撞引起的谱线变宽。c斯托克变宽；在电场作用下，带电粒子碰撞引起的谱带变宽。
2.复合辐射引起的光谱干扰，复合辐射是电子被离子俘获过程中，以辐射形式释放能量产生的连续光谱，它的强度随着电子密度的升高而急剧增加。氩等离子体中电子密度较大，故要考虑这种背景的影响，特别是对痕量元素的分析。
3.基体元素的强烈发射造成的散射光引起的光谱干扰。典型的是灵敏度较高的碱土金属Ca、Mg在高浓度时由于强烈发射造成的散射效应对邻近谱线的影响，散射光使背景加深，从而降低了信噪比。

ICP光谱仪包括以下几个主要部分：
1、入射狭缝：在入射光的照射下形成光谱仪成像系统的物点。
2、准直元件：使狭缝发出的光线变为平行光。该准直元件可以是一独立的透镜、反射镜、或直接集成在色散元件上，如凹面光栅光谱仪中的凹面光栅。
3、色散元件：通常采用光栅，使光信号在空间上按波长分散成为多条光束。
4、聚焦元件：聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狭缝的像，其中每一像点对应于一特定波长。
5、探测器阵列：放置于焦平面，用于测量各波长像点的光强度。该探测器阵列可以是ccd阵列或其它种类的光探测器阵列。