型号：D8 Advance
产地：德国
布鲁克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰(注意不是一个衍射峰)的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度,布鲁克AXS公司提供保证!
*的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍,不仅答复提高设备的使用效率, 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。
技术指标:
Theta/theta 立式测角仪
2Theta角度范围:-110～168°
角度精度:0.0001度
Cr/Co/Cu靶,标准尺寸光管
探测器:林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器
仪器尺寸:1868x1300x1135mm
重量:770kg
主要应用
1、物相定性分析
2、结晶度及非晶相含量分析
3、结构精修及解析
4、物相定量分析
5、点阵参数精确测量
6、无标样定量分析
7、微观应变分析
8、晶粒尺寸分析
9、原位分析
10、残余应力
11、低角度介孔材料测量
12、织构及ODF分析
13、薄膜掠入射
14、薄膜反射率测量
15、小角散射
