为什么石英晶振要老化时间长来测试性能?

        对所有晶振都是要经过的老化是考验产品的稳定性和确保晶振都可以发挥正常功能，让我们也可以放心使用不同晶振的性能需求，因为晶振对产品的重要性是众所皆知的，老化也是检测晶振产品在不同环境使用下都是可以达到性能要求的重要性。
        将提供长达1900天的延长老化测试结果，以便深入了解石英晶体振荡器的长期漂移特性。将讨论结果，以显示环境条件和电源开关周期变化的影响。
1.老化
        老化是在恒定的环境和系统级条件下振荡器频率随时间的变化。石英晶体振荡器的老化是由石英晶体本身或振荡器组件中剩余组件的变化引起的。
        石英晶体老化是几个因素综合作用的结果。这些因素中的一些可能包括杂质的扩散和石英晶体、其固定器、玻璃或陶瓷基底以及用于安装石英的粘合剂的除气。它还可能包括金属从电极迁移到石英表面。这些事件涉及石英晶体质量的交换，导致其频率的变化。
其他因素也有助于石英晶体老化，包括晶体底座的应力释放和显微镜支架泄漏。虽然已知保持架中的严重泄漏会导致频率下降，但微观泄漏对长期老化性能的影响还不太清楚。
2.方法
       每个振荡器的数据是通过大约每2小时平均1秒门间隔的20个样本来收集的。所有振荡器的自动测试测量都是通过软件控制连续进行的，除非它们被加载到老化系统或从老化系统中卸载。
      每天。在此过程中，数据收集会停止大约3到5个小时。
      中断也可能是老化系统日常维护工作或电力故障的结果。在这种情况下，石英晶振振荡器可能会断电几个小时，数据收集可能会停止几天。
由于制图软件的限制，所有呈现的数据都通过删除每隔一个数据点而减小了大小。时间刻度已经标准化，个数据点是在2000年2月15日，在标有“天数”的x轴上代表第0天因此，在此日期之前获取的所有数据点都用从标准化日期算起的负数天数表示。这是为了便于定位多个单元的数据集共有的事件，从而将它们与单个振荡器的行为隔离开来。
       杂散点已从显示的结果中移除，以允许观察感兴趣的数据。杂散数据点的出现主要是由于过度使用导致老化系统测试夹具插座和射频开关磨损。这将导致错误的频率读数，因为沿射频信号路径偶尔会出现间歇性接触。
3.介绍
       已经对几种类型的石英晶体振荡器进行了非常长时间的老化测量，包括AT和SC切割烘箱控制晶体振荡器有源晶振(OCXO)以及温度补偿晶体振荡器(TCXO)。)尽管每个OCXO在生产中都会老化，但数据通常只在满足老化率规范所需的时间内收集。TCXOs很少老化，因为需要很长的测试时间来确定真正的老化性能。对于大组振荡器长期老化性能结果的研究通常不可用。
       显示的许多测试结果是振荡器超出生产订单、不符合特定规格的单元或者在老化测试测量期间表现出异常行为。必须注意的是，大量显示有频率扰动的数据不是标准数据，仅占不显示异常的振荡器的一小部分。然而，从这些温补晶振振荡器长期收集的数据显示出有趣的品质，值得注意。事实上，许多振荡器有意留在老化系统中，专门用于研究老化过程，并且还提供了这些振荡器的数据。
       该数据反映了真实世界的性能，因为它捕捉了日常和季节性变化的周期性变化，以及由于电源故障和预定系统维护造成的回扫影响。认识到石英晶体振荡器的真正老化性能被这些因素混淆是很重要的。
       不同环境下对晶振的各种要求是不一样的，所以老化就可以知道晶振的极限是多少数值可以参考，我们也可以通过老化来为用到晶振的产品保驾护航，这篇文章就是介绍下晶振老化的重要性和老化测试性能的结果！