薄膜厚度测量仪可广泛适用于薄膜及其他片状材料的厚度测定，还可以检测薄膜、复合膜、纸张、金属箔片等硬质和软质材料厚度，是一款智能化效率高、实验效率高、实验准确度高的理想检测设备。
采用激光测量位移差的方式，测量薄膜在一定张力下的表面平整度，并根据设定规则自动识别坏品。张力测量模块由一个激光位移传感器、驱动机构组成。通过可调张力张紧薄膜被测物后，驱动机构带动位移传感器横向来回扫描，得到膜片横向的高度差，根据转换关系转换成张力均匀性差异。
薄膜厚度测量仪的测量方法：
1、设置好的实验参数、实验次数等参数信息；
2、点击开始试验键，开始实验；
3、不在测量头与砧板间放置任何物体，点击确定，测量头自动落下后可与砧板直接接触；
4、当测量头再次抬起时，按照设备提示，将试样放置在测量头与砧板之间，点击确定；
5、测量头自动落到试样表面进行测试，并显示测试结果；
6、此后，可手动或由设备移动试样，完成剩余测试；
7、保存并打印实验结果。
实际使用过程中，由于环境温度及湿度在不停变化，射线强度、射线感应器性能也随时间缓慢漂移。要把该测量原理应用到工业场合，提高测量精度，需要在该模型中实时加入温修补偿机制。
