蔡司光学复合三坐标测量机O-INSPECT系列
特点：
蔡司工业测量是的三坐标测量生产商，是三坐标测量技术的和奠基者，致力于为工业制造领域及测量实验室的多维测量需要提供专业的测量解决方案。蔡司独立研发生产所有主要部件，确保了产品高品质和高性能的承传。
O-INSPECT 543作为一款创新意义的工业测量产品，致力于但又不局限于小、薄、软零件之几何量尺寸测量。这是一款现代化的复合式扫描测量系统，测量范围为500400300mm，占地面积小抗环境变化能力强，适用于各类型测量室或车间。其设计新颖，于光学测量特征之外融入的高分辨率低测力连续扫描及宽温测量等因素，以更好地满足于现代测量的需要。
O-INSPECT 543可满足制造业对于尺寸与扫描精度、尺寸测量及形位公差评定的广泛要求。采用的复合式扫描平台，支持从二维视像到复杂三维特征或三维工件量测，整体量测重复性。除了满足实验室的精密量测应用， O-INSPECT 543亦可用于车间的批量化在线检测。
ZEISS O-INSPECT
蔡司光学复合三坐标测量机O-INSPECT系列每个领域中的专家
来自蔡司的O-INSPECT复合式测量机使您能理想地测量到每一个特征——通过光学或接触式。一个重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供符合ISO标准的可靠三维精度。一个附加的亮点：CALYPSO软件不仅简便地交付测量结果，而且简化了发觉和辨识错误原因的过程。
O-INSPECT 322 O-INSPECT 543 O-INSPECT 863
测量范围[dm] 3/2/2 测量范围[dm] 5/4/3 测量范围[dm] 8/6/3
大视野，高清图像——蔡司Discovery远心变焦镜头
蔡司Discovery.V12来自蔡司显微镜事业部。与常规镜头比较，提供四倍更大视场，即便于镜头周边区域亦可确保图像质量。优点：减少测量时间并具有稳定的精度。
更多测量点，更多信息——蔡司VAST XXT连续扫描测头
O-INSPECT配备灵活、快速及高精度的VAST XXT接触式连续扫描测头。 通过这种扫描测头即可捕捉相当大量的测量点，取得有关形状和位置的信息，是此类测量机中的。别的多探头测量机仅允许单点测量，而且探针测力相当大；蔡司O-INSPECT却能以毫牛级别探针测力进行扫描测量，所以针对薄壁的工件也能实现真正的3D测量。
既快速又精准。让您一目了然——蔡司CALYPSO软件
O-INSPECT与CALYPSO测量软件提供全新的可视化功能，使O-INSPECT全面开启了测量机可视化的新纪元。通过它们您可以同时查看实际状态、理论状态及偏差，更快捷诠释测量结果。
技术参数
| 产品名称 | O-INSPECT 543 | O-INSPECT 442 | O-INSPECT 322 | O-INSPECT 863 |
| 产品外观 |  |  |  |  |
| 配置 | Discovery远心变焦镜头 自适应照明系统 VAST XXT扫描探头 测针架 标准球 | |||
| 选项 | 白光距离传感器 转台 含玻璃托盘和网格托盘的上下料系统 校准托盘 | |||
| 软件 | CALYPSO | |||
| 长度测量 误差E0 | 光学(1D)[μm] 1.7+L/250 接触(1D)[μm] 1.7+L/250 | 光学(1D)[μm] 1.6+L/200 接触(1D)[μm] 1.6+L/200 | ||
| 测量范围 [mm] | X500, Y400, Z300 | X400, Y400, Z200 | X300, Y200, Z200 | X800, Y600, Z300 |
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