仪器用途：
倒置型 LWD200-4XI 金相显微镜适用于金相学、冶金学专业实验室的研究。并广泛应用于集成电路IC行业、电子半导体业。也可用于鉴别和分析各种金属和合金的组织结构，可广泛地应用在工厂或实验室进行铸件质量的鉴定，原材料的检验或对材料处理后金相的研究分析等工作。本仪器可配用摄影装置进行显微摄影。
主要技术参数:
1．单目镜筒：倾斜60 °，瞳距55mm-75mm 视度±5°
2．平场目镜：10X/18mm、12.5X/15mm ，
带0.1mm刻度十字分划板目镜WF10X
3．消色差物镜：4X、10X、、100X（S、O）
金相平场消色差物镜：40X(S)
4．总放大倍数：40X-1250X
5．载物台：尺寸200mm*180mm
带两块载物盘Ø10和Ø20mm，
移动范围 70*50mm
6．调 焦 ：粗微动同轴 升降范围25mm
微动格值0.002mm，手轮松紧可调节
7．聚焦镜：柯勒照明 ,滤色片（带蓝、绿、黄三块滤色片）
8．光 源：可调卤素灯 6V20W
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