产品特点
· SWIR高灵敏度，覆盖950 nm到1700 nm的光谱范围
· 大视场高分辨率，1024像素线阵
· 高行频输出，线路速率：40 kHz
· 紧凑轻巧的设计：49 mm (W) × 49 mm (H) × 100 mm (D) (Does not include protrusions.)
· 小巧轻便，重量约250克
· 高质量的图像以及优秀的矫正功能
· GigE Vision接口
典型应用
· 食品和农产品（损坏检查，质量筛选，材料歧视等）
· 半导体（硅晶片图案检查，EL / PL的太阳能电池检查等）
· 工业（水分，泄漏检测，容器检查等）
相关文件
C15333-10E
产品介绍
SWIR（短波红外）成像是无损检测的解决方案。它可以根据物体表面SWIR光谱特征区分材料，并提供安全便捷的方法来保证产品质量，包括检查包装中的液体质量，检查密封容器里的内容以及检测农产品中的损坏和杂志等。另外，还可以在半导体工业中进行硅晶圆的太阳能电池缺陷检查。
光谱响应范围
外形尺寸图（单位：mm）
产品型号及主要指标
| 型号/model | C15333-10E |
| 有效像素数 | 1024 (H) × 1 (V) |
| 像素尺寸 | 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) |
| 有效面积 | 12.8 mm (H) × 0.0125 mm (V) |
| 满阱容量 | Gain 0: 4.0 M electrons Gain 1: 0.76 M electrons Gain 2: 0.16 M electrons Gain 3: 0.051 M electrons |
| 读出速度 | Internal mode: 40 kHz (21 μs exposure time) Sync readout: 40 kHz |
| 曝光时间 | 21 μs to 1 s (1 μs step) |
| 外部触发输入 | Sync readout |
| 外部触发信号路径 | 12 pin SMA or HIROSE connector |
| 图像处理功能 | Background subtraction, Real time shading correction |
| 接口 | Gigabit Ethernet |
| A/D转换器 | 14 bit |
| 镜头卡口 | C mount |
| 电源 | DC 12 V |
| 量子效率 | above 60 % (1100 nm ～ 1600 nm) * |
| 功耗 | 6 W max. |
| 推荐环境工作温度 | 0 ℃ to +40 ℃ |
| 环境储存温度 | -10 ℃ to +50 ℃ |
| 环境工作湿度 | 30 % to 80 % (with no condensation) |
| 环境储存湿度 | 90 % max. (with no condensation) |
| 成像器件 | InGaAs line sensor |
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