技术性能及指标:

元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；

元素含量分析范围为1PPm到99.99%；

测量时间：100-300秒(可调)；

同时分析镀层层数：多可达3层

镀层检测厚度范围：0.05-40μm（视材料类型而有所不同）

采用微聚焦准直技术，小可达Ф0.5mm,应对小样品和不规则样品测试轻松自如。

RoHS指令有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检出限高达1PPM，Cl高达50PPM；

探测器：美国电致冷SDD半导体探测器，能量分辨率：129±5eV；

高压系统 ：50KV/1mA；

X光管：50W，铍窗，50kV/1000uA。

产品特点

EDX8300H配备抽真空，更好地应对RoHS、无卤等环保指令，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，特别是提高了Na、Mg、Al、Si等轻元素的检出限，度提高了，同时在测试Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl等其他元素的重复性稳定性有了明显的提高。

整体结构化设计，仪器美观大方。

采用美国的SDD探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。

采用自主研发的SES信号处理系统，有效提高峰背比，让测量更。

一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。

七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。

多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品高级。

优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。

的机芯温度监控技术，确保射线源的运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。

多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。

真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。

本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速传输。

的全自动真空系统,屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。

一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。

抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。