硅涂布量测试仪edx8000主要用于不干胶，离型纸，淋膜等表面硅含量的快速分析，硅油是一种不同聚合度链状结构的聚有机硅氧烷。它是由二甲基二氯硅烷加水水解制得初缩聚环体，环体经裂解、精馏制得低环体，然后把环体、封头剂、催化剂放在一起调聚就可得到各种不同聚合度的混合物，经减压蒸馏除去低沸物就可制得硅油。 的硅油，有机基团全部为甲基，称甲基硅油。近年来，有机改性硅油得到迅速发展，出现了许多具有特种性能的有机改性硅油。硅油具有的耐热性、电绝缘性、耐候性、疏水性、生理惰性和较小的表面张力，此外还具有低的粘温系数、较高的抗压缩性）有的品种还具有耐辐射的性能。
离型膜的硅涂布量是生产过程中质量控制的一个重要方面，涂覆太多，则影响成本。涂覆太少，则粘合层将地粘在基底上。利用x射线荧光光谱分析技术原理对表面涂布硅含量检测来达到涂布量的生产过程控制，是一种经济有效的手段。
采用*的FP软件算法，无需多个标样，工作曲线轻松制作。可将玻璃纸校准用于其他纸张类型，包括粘土涂层纸张，而不会有损精确度。测量涂层样品以及对新基底进行自动补偿时，XRF设备使用这一测量值作为“校正因子"。
2、*的电制冷技术，无需液氮；的真空装置，无需氦气
硅层涂覆生产过程中可能出现涂层纸张上硅厚度的微小变化，导致不同的点，会有微量的变化。XRF分析仪通常只测量纸张样品上的一个点位，这种微小变化可能会呈现测试结果的差异。通过软件自动计算平均值，能够简化人工操作。
4、专用设计：坚固、快速且易于使用
5、强大的数据管理
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测量元素范围 | 从钠（Na）到铀（U） |
测量浓度范围 | ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同） |
测量对象状态 | 粉末、固体、液体 |
元素分析能力 | 一次性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素 |
分辨率 | 130eV±5eV |
分析精度 | RSD≤0.1%（国标标样） |
分析时间 | 单次测试时间可调 |
制冷方式 | 电制冷，无需任何耗材 |
样品腔尺寸 | 400mm×340mm×80mm |
外观尺寸 | 700mm*510 mm*336mm |
工作电源 | AC220V ±5V、50Hz |
工作环境 | 室内温度15～35℃；相对湿度≤80%（不结露） |
整机重量 | 56KG |
性能特点
分析效率 | 速度快、精度好、效率高，采用自主研发的分析软件能在1-120秒内同时完成从11钠（Na）至92铀（U）之间几十种元素的同步准确分析 |
功能优势 | 1.外形设计：大方美观、坚固耐用、多重安全防护模式。 2.准直滤光系统：准直器多组合滤光片，软体自动切换，满足各种测试应用。 3.采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。 4.多维散热系统：优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全 5.辐射安全系统：多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品 6.真空系统：选择抽真空系统，优化测试环境，提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析精度，大大扩展EDX8000H型分析仪的分析能力。 7.的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本 |
硬件优势 | 核心部件整套进口 1.探测器：美国完整版硅漂移SDD探测器，分辨率至130eV，能量线性和能量分辨率俱佳，高峰背比。 2.X射线管：功率50W、管电压5-50KV、管电流0-1000uA；长寿命X射线管。 3.高压电源：功率50 W、电压0 -50 KV、电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。 4.信号处理器：采用进口信号处理器，适应高分辨率和高计数率，自调放大倍数，道数：4096。 |
软件优势 | 美国丹纳赫和我司共同研发的X荧光分析软件中文版，该软件融合经验系数法、理论α系数法、线性拟合、二次曲线、强度校正、含量校正等多种分析方法，全面保证测试数据的准确性。 |
仪器配置
系统标配 | 1.SDD探测器 2.X射线源 3.高压电源 4.性噪比电子线路系统 5.光路增强系统 6.滤光片组准直 7.数字多道分析器 8.品牌抽真空系统 9.品牌喷墨打印机 10.品牌计算机 11.X荧光全元素分析软件 12.样品杯、保险丝 13.光谱专用稳压电源 |
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