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泰克DSA8300数字采样示波器
主要性能指标
- 低时基抖动:
- 大8 条同时采集的通道上典型值为425 fs
- 82A04B相位基准模块中,多6 条通道上<100 fs
- 垂直分辨率– 16 位模数转换器
- 电接口分辨率 lt;20 µV LSB(适用于1 v全量程)
- 光接口分辨率从80C07B(1 mW全量程)的<20 nW到80C10C(30 mW全量程)的<0.6 µW
- 光接口带宽>80 GHz
- 电接口带宽>70 GHz
- 为NRZ、RZ和脉冲信号类型提供了超过120 种自动测量功能
- 80 多种行业标准模板,自动进行模板测试
- 复杂抖动/噪声/BER/SER分析(80SJNB),支持复杂测量TDECQ 1, SNDR 2 (应用)
1PAM4发射机和色散眼图闭合象限。
2S信噪失真比。
主要特点
各种光接口模块、电接口模块和附件模块可以满足您的特定测试要求。
- 光接口模块
- 支持从155 Mb/s到10 Gb/s、40 Gb/s、100 Gb/s和50G/100G/200G/400G PAM4光数据速率的光模块
- 光基准接收机(ORR) 1 满足了标准规定的*性测试中的要求
- 光接口采样模块提供了高光学灵敏度、低噪声及宽动态范围,可以准确地测试和检定短程到远程光接口通信标准
- 经过全面校准的时钟恢复解决方案–不需要手动校准数据捡拾损耗
- 已校准消光比测量和变量校正ER测量可确保精度和重复能力
- 电接口模块
- 超低噪声电采样器(20GHz时280 μV,60GHz时450 μV,典型值)
- 可以选择带宽2,用户可以平衡带宽和噪声,实现U秀的数据采集性能
- 远程采样器或紧凑的采样扩展器模块电缆大限度地减少信号劣化,因为采样器可以放在被测器件附近
- 高性能集成TDR(10 ps典型步进上升时间)支持杰出的阻抗不连续性检定,对带宽高达50GHz的S参数测量提供了高动态范围
- 对速率在<1 GBd到60 GBd之间的高速PAM4和PAM2 NRZ串行数据执行抖动、噪声和BER分析,了解眼图闭合的确切原因
- 分析
- 分析PAM4信号,全面分析每一个PAM眼图的抖动、噪声和BER,并支持一套全局测量,评估PAM4信号整体属性
- 100G-SR4/发射机和色散眼图闭合(TDEC)自动化提供对SR4短程以太网至关重要的TX光属性的全套测试和调试
- 80STDEC简化了高性能发射机和色散眼图闭合(TDEC)测量,使其非常适合生产和*性验证应用
- 自动模板测试,支持80 多种行业标准模板。新模板可以导入DSA8300,支持各种新兴标准。用户可以定义自己的模板,自动进行模板测试
- 抖动、噪声、BER、模板测试和串行数据链路分析(SDLA)通过80SJNB Essentials和Advanced应用软件选项提供
- 高级TDR分析、S参数测量、仿真模型提取和串行链路仿真功能通过IConnect® 应用软件选项提供
- 400G-M4光制造分析软件提供了光发射机和色散眼图闭合象限(TDECQ)分析功能
- 高测试吞吐量
- 每条通道高达200 kS/s的高采样率
- 高效编程接口(IEEE-488、以太网或本地处理器接入)实现高测试吞吐量
1光基准接收机(ORR)是一种四阶Bessel-Thompson滤波器,拥有标准规定的频响和容限。泰克优化了响应,实现标称拟合和高质量的模板测试结果。
2参阅80E00电采样模块产品技术资料,获得每种模块的详细介绍。
应用
- 设计/检验电信和数据通信器件和系统
- ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH制造/*性测试
- 高性能真正差分TDR测量
- 串行数据应用阻抗检定和网络分析,包括S参数
- 高级抖动、噪声、BER和SDLA分析
- 使用IConnect基于通道和眼图仿真和测量建模
泰克DSA8300数字采样示波器
技术数据
本文中的产品规格和描述如有变更,恕不另行通知。
除另行说明外,所有技术规格均受保证。除另行说明外,所有技术规范适用于所有型号。
垂直系统
上升时间/带宽
取决于使用的采样模块
垂直分辨率
在采样模块的动态范围内16 位
电接口分辨率 lt;20 μV LSB(适用于1 V全量程)
光接口分辨率视光接口模块的动态范围而定,从80C07B(1 mW全量程)的<20 nW,到80C10C(30 mW全量程)的<0.6 μW
水平系统
主时基和放大视图时基,水平量程
100 fs/div - 1 ms/div,1-2-5 顺序或100 fs增量
时间间隔精度
触发直接(前面板)输入
水平量程为>20 ps/div,测量间隔右面的点<150 ns;平均精度:0.1%的间隔,STDEV:≤1 ps
水平量程≤20 ps/div,测量间隔右面的点<150 ns;平均精度:1 ps + 0.5%的间隔
时钟输入/预定标触发(前面板),眼图或码型模式
平均精度取决于时钟输入精度STDEV lt;0.7 ps(大值) lt;0.1 ps(典型值)
时钟输入/预定标触发(前面板),其他模式
水平量程为>20 ps/div,测量间隔右面的点<150 ns;平均精度:0.1%的间隔,STDEV:≤3 ps
水平量程≤20 ps/div,测量间隔右面的点<150 ns;平均精度:1 ps + 0.5%的间隔
TDR时钟触发(锁定到外部10 MHz时钟)
水平量程为>20 ps/div,测量间隔右面的点<150 ns;平均精度:0.01%的间隔,STDEV:≤1 ps(0.1 ps典型值)
随机相位修正模式(时钟输入到82A04B)
大定时偏差:0.1%的相位参考信号周期,典型值,相对于相位参考信号
如需进一步了解相位参考运行模式,请参阅“DSA8300采样示波器的相位参考模块"产品技术资料。
触发的相位修正模式(时钟输入到82A04B)
相对于相位参考信号的大定时偏差:
>40 ns,触发事件之后:0.2%的相位参考信号周期,典型值
≤40 ns,触发事件之后:0.4%的相位参考信号周期,典型值
提供的水平偏移校正范围
SW:任何单独通道上,
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