液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性
测试电桥参数
测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
测试频率 20 Hz～2MHz,10mHz步进
测试信号电 f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
平 f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本准确度 0.1%
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
公司仪器研发部拥有行业内高效的研发力量及技术团队，长期与高校实验室合作，并联合研发沿的测试技术，是对推动我公司在材料检测技术的提高和试验方法创新的重要技术保证力量。
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源于精测 精品摇篮 之选 自强不息 厚德载物 厚积薄发 高速增长
新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪
达200次／s的测量速度
320x240点阵大型图形LCD显示
五位读数分辨率
可测量22种阻抗参数组合
四种信号源输出阻抗
10点列表扫描测试功能
内部自带直流偏置源
外置偏流源至40A（配置两台TH1776）（选件）
电压或电流的自动电平调整（ALC）功能
新款GCSTD系列 低频介电常数测试仪
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