蔡司场发射扫描电镜SIGMA 300
蔡司场发射扫描电镜SIGMA 300核心技术
蔡司公司推出Sigma300场发射扫描电镜采用成熟的GEMINI光学系统设计，将低电压成像技术发挥到了，采用适宜的探针电流范围，降低50%的信噪比从而提升了85%的衬度信息。Sigma300将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma自动的四步工作流程大大节省了设置与分析操作的时间，提高效率。
蔡司场发射扫描电镜SIGMA 300产品应用
扫描电镜(SEM)广泛地应用于金属材料(钢铁、冶金、有色、机械加工)和非金属材料(化学、化工、石油、地质矿物学、橡胶、纺织、水泥、玻璃纤维)等检验和研究。在材料科学研究、金属材料、陶瓷材料、半导体材料、化学材料等领域进行材料的微观形貌、组织、成分分析，各种材料的形貌组织观察，材料断口分析和失效分析，材料实时微区成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面扫描和线扫描分布测量，晶体、晶粒的相鉴定，晶粒尺寸、形状分析，晶体晶粒取向测量。
蔡司场发射扫描电镜SIGMA 300技术参数
| 分辨率 | @30kV STEM、 @15 kV、 @1kV |
| 放大倍数 | 10-1,000,000× |
| 加速电压 | 调整范围： kV（无需减速模式实现） |
| 探针电流 | 3pA~20nA（100nA选配） 稳定性优于%/h |
| 低真空范围 | 2-133Pa （Sigma 300VP可用） |
| 样品室 | 365mm（Φ），275mm（h） |
| 样品台 | 5轴优中心全自动、X=125mm、Y=125mm、Z=50mm、T=﹣10°-90°、R=360° 连续 |
| 系统控制 | 基于Windows 7的SmartSEM操作系统，可选鼠标、键盘、控制面板控制 |
| 存储分辨率 | 34k×24k pixels |
| 仟渔 | https:/// |
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