真空衰减法无损检验包装泄漏密封试验仪VDL-01
真空衰减法无损检验包装泄漏密封试验仪VDL-01采用真空衰减原理对成品包装进行微泄露检测，测试仪适用于微量泄漏检测、各种包装容器完整性检漏。可应用于安瓿瓶、西林瓶、HDPE瓶、预充针等医药包装、食品包装、化工行业包装的泄露检测。密封测试仪具有非破坏性、无损、无需样品准备等优点。我司致力为药品、食品的质量保驾护航。
标准
ASTM F2338-2009(2013)、YY-T0681.18-2020、美国药典USP1207
原理
完全符合ASTM F2338-2009（2013）、YY-T0681.18-2020和USP1207标准要求。将微泄露密封性测试仪主机连接到一个特别设计用来容纳需要被测试的包装物的测试腔内。仪器对测试腔进行抽真空，包装物内外形成压力差，在压力的作用下包装物内气体通过漏孔扩散至测试腔内，传感器检测时间和压力的变化关系，与标准值进行比较，判断试样是否泄漏。
真空衰减法无损检验包装泄漏密封试验仪VDL-01技术参数
真空度 | 0-100 kPa |
检测灵敏度 | 1-3μm |
测试时间 | 约30s |
标准配置：主机、真空泵、测试腔1套、微型流量校准器
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